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ATNet: A Defect Detection Framework for X-ray Images of DIP Chip Lead Bonding
Veröffentlicht in Micromachines (Basel)
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A Lightweight Method for Detecting IC Wire Bonding Defects in X-ray Images
Veröffentlicht in Micromachines (Basel)
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Design and Preparation of a 3D Photonic Glass with a Broad Infrared Gap
Veröffentlicht in ChemistrySelect (Weinheim)
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