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    Cu Contamination of the nMOSFET in a 3-D Integrated Circuit under Thermal and Electrical Stress

    Cu Contamination of the nMOSFET in a 3-D Integrated Circuit under Thermal and Electrical Stress von Yeon, Han-Wool, Jung, Sung-Yup, Lim, Jung-ryul, Pyun, Jungwoo, Kim, Hyungwook, Baek, Dohyun, Joo, Young-Chang


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