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    Nano scale tilt measurement using a polarizing phase shifting cyclic interferometer

    Nano scale tilt measurement using a polarizing phase shifting cyclic interferometer von Pretheesh Kumar, V.C., Ganesan, A.R.

    Veröffentlicht in Optics and laser technology

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    Real-Time Double-Layer Thin Film Thickness Measurements Using Modified Sagnac Interferometer with Polarization Phase Shifting Approach

    Real-Time Double-Layer Thin Film Thickness Measurements Using Modified Sagnac Interferometer with Polarization Phase Shifting Approach von Usman, Abdullahi, Bhatranand, Apichai, Jiraraksopakun, Yuttapong, Kaewon, Rapeepan, Pawong, Chutchai

    Veröffentlicht in Photonics

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