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Deep Level Transient Spectroscopy Technique to Analyze Radiation Induced Defects in Power Transistors
von
Prakash, A. P. Gnana
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Tagungsbericht
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2
Application of advanced 200 GHz Si–Ge HBTs for high dose radiation environments
von
Praveen, K.C.
,
Pushpa, N.
,
Prabakara Rao, Y.P.
,
Govindaraj, G.
,
Cressler, John D.
,
Gnana Prakash, A.P.
Veröffentlicht in
Solid-state electronics
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Artikel
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An analysis of 100 MeV F super(8+) ion and 50 MeV Li super(3+) ion irradiation effects on silicon NPN rf power transistors
von
Pushpa, N
,
Praveen, K C
,
Prakash, APGnana
,
Rao, YPPrabhakara
,
Tripati, Ambuj
,
Revannasiddaiah, D
Veröffentlicht in
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment
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Artikel
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4
A comparison of lower and higher LET heavy ion irradiation effects on silicon NPN rf power transistors
von
Bharathi, M.N.
,
Pushpa, N.
,
Vinayakprasanna, N.H.
,
Prakash, A.P. Gnana
Veröffentlicht in
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment
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Artikel
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Aip Digital Archive
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Ieee Electronic Library (Iel)
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Aip Journals Complete
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