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Characterization of Noise in CMOS Ring Oscillators at Cryogenic Temperatures
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Ferroelectricity in Polar Polymer‐Based FETs: A Hysteresis Analysis
Veröffentlicht in Advanced functional materials
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Analysis and Control of RRAM Overshoot Current
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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