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  1. 1
    FRAM-the ultimate memory

    FRAM-the ultimate memory von Philofsky, E.M.

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  2. 2
    Applications of scanning electron microscopy to thin film studies on semiconductor devices

    Applications of scanning electron microscopy to thin film studies on semiconductor devices von Gonzales, A.J., Philofsky, E.M.

    Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE

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  3. 3
    The evolution of hydrogen from plastic molding compound and it's effect on the yield and reliability of ferroelectric memories

    The evolution of hydrogen from plastic molding compound and it's effect on the yield and reliability of ferroelectric memories von Philofsky, E.M., Ostrander, C.R., Hartman, S.J.

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