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    Index of refraction of germanium

    Index of refraction of germanium von Burnett, John H, Benck, Eric C, Kaplan, Simon G, Stover, Erik, Phenis, Adam

    Veröffentlicht in Applied optics (2004)

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    Remote Color Matching Devices and System

    Remote Color Matching Devices and System von Phenis, Adam Michael, Davis, Alice McKinstry, Davis, Dennis Willard

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    Patent

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    Freeform Surface Characterization and Instrument Alignment for Freeform Space Applications

    Freeform Surface Characterization and Instrument Alignment for Freeform Space Applications von Khreishi, Manal, Ohl, Raymond, Howard, Joseph, Papa, Jonathan, Hovis, Clark, Howe, Andrew, Hadjimichael, Theodore, Thompson, Patrick, Shiri, Ron, West, Garrett, Phenis, Adam, Liang, Rongguang

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