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Shadow Moiré with topside infrared heating
von
Wilson, Richard James
,
Gheesling, Joseph Carlton
,
Petriccione, Gregory James
,
Hubble, Neil Thomas
,
Varzari, Igor
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Projection moiré method and apparatus for dynamic measuring of thermal induced warpage
von
Ume, Ifeanyi Charles
,
Petriccione, Gregory James
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Projection moiré method and apparatus for dynamic measuring of thermal induced warpage
von
PETRICCIONE GREGORY JAMES
,
UME IFEANYI CHARLES
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4
Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples
von
PETRICCIONE GREGORY JAMES
,
MCCARRON SEAN PATRICK
,
ZWEMER DIRK ADRIAN
,
PAN JIAHUI
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5
Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples
von
PETRICCIONE GREGORY JAMES
,
MCCARRON SEAN PATRICK
,
ZWEMER DIRK ADRIAN
,
PAN JIAHUI
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Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples
von
Zwemer, Dirk Adrian
,
Pan, Jiahui
,
Petriccione, Gregory James
,
McCarron, Sean Patrick
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SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING SAMPLE SURFACE FLATNESS OF CONTINUOUSLY MOVING SAMPLES
von
ZWEMER, DIRK, ADRIAN
,
PAN, JIAHUI
,
MCCARRON, SEAN, PATRICK
,
PETRICCIONE, GREGORY, JAMES
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8
SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING SAMPLE SURFACE FLATNESS OF CONTINUOUSLY MOVING SAMPLES
von
ZWEMER, DIRK, ADRIAN
,
PAN, JIAHUI
,
MCCARRON, SEAN, PATRICK
,
PETRICCIONE, GREGORY, JAMES
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Patent
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Measuring
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Measuring Angles
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Measuring Areas
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Measuring Irregularities Of Surfaces Or Contours
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Measuring Length, Thickness Or Similar Lineardimensions
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Physics
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Testing
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Calculating
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Computing
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Counting
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Image Data Processing Or Generation, In General
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Arrangements For Measuring Two Or More Variables Not Coveredin A Single Other Subclass
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Handling Record Carriers
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Measuring Not Specially Adapted For A Specific Variable
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Measuring Or Testing Not Otherwise Provided For
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Presentation Of Data
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1
Recognition Of Data
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Record Carriers
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Tariff Metering Apparatus
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Von:
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Esp@Cenet
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