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Technique for measuring of LIA spot size on target by X-rays propagating in beam backward direction von Kolesnikov, P.A., Politov, V.Yu, Li, E.S., Yaskevich, A.P., Kolesnikov, S.A., Ekimov, Yu.M., Malyshev, M.A., Akhmetov, A.R., Petrov, D.V., Nikitin, O.A., Penzin, I.V., Trunev, Yu.A., Atlukhanov, M.G., Burdakov, A.V., Danilov, V.V., Kurkuchekov, V.V., Popov, S.S., Skovorodin, D.I., Zhivankov, K.I.
Veröffentlicht in Journal of instrumentation
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