Understanding of the thermal stability of the hafnium oxide/TiN stack via 2 "high k" and 2 metal deposition techniques von Cosnier, V., Besson, P., Loup, V., Vandroux, L., Minoret, S., Casse, M., Garros, X., Pedini, Jm, Lhostis, S., Dabertrand, K., Morin, Céline, Wiemer, C., Perego, M., Fanciulli, M.

Volltext

Charm system tests of CPT and Lorentz invariance with FOCUS von Link, J.M., Reyes, M., Yager, P.M., Anjos, J.C., Bediaga, I., Göbel, C., Magnin, J., Massafferri, A., de Miranda, J.M., Pepe, I.M., dos Reis, A.C., Carrillo, S., Casimiro, E., Cuautle, E., Sánchez-Hernández, A., Uribe, C., Vázquez, F., Agostino, L., Cinquini, L., Cumalat, J.P., O'Reilly, B., Ramirez, J.E., Segoni, I., Wahl, M., Butler, J.N., Cheung, H.W.K., Chiodini, G., Gaines, I., Garbincius, P.H., Garren, L.A., Gottschalk, E., Kasper, P.H., Kreymer, A.E., Kutschke, R., Benussi, L., Bianco, S., Fabbri, F.L., Zallo, A., Cawlfield, C., Kim, D.Y., Park, K.S., Wiss, J., Gardner, R., Kryemadhi, A., Chang, K.H., Chung, Y.S., Kang, J.S., Ko, B.R., Kwak, J.W., Lee, K.B., Cho, K., Park, H., Alimonti, G., Boschini, M., Cerutti, A., D'Angelo, P., DiCorato, M., Dini, P., Edera, L., Erba, S., Giammarchi, M., Inzani, P., Leveraro, F., Malvezzi, S., Menasce, D., Mezzadri, M., Moroni, L., Pedrini, D., Pontoglio, C., Rovere, M., Sala, S., Davenport, T.F., Arena, V., Boca, G., Bonomi, G., Gianini, G., Liguori, G., Merlo, M.M., Pantea, D., Pegna, D.L., Ratti, S.P., Riccardi, C., Hernandez, H., Lopez, A.M., Luiggi, E., Mendez, H., Paris, A., Xiong, W., Zhang, Y., Wilson, J.R., Handler, T., Mitchell, R., Engh, D., Johns, W.E., Nehring, M., Sheldon, P.D., Stenson, K., Vaandering, E.W., Webster, M., Sheaff, M.

Volltext