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    Influence of Interface trap distributions over the device characteristics of AlGaN/GaN/AlInN MOS‐HEMT using Cubic Spline Interpolation technique

    Influence of Interface trap distributions over the device characteristics of AlGaN/GaN/AlInN MOS‐HEMT using Cubic Spline Interpolation technique von Viswanathan, Sandeep, Pravin, Charles, Arasamudi, Ramesh Babu, Pavithran, Prajoon


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