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Suchergebnisse - Parupalli, Satish
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1
Voltage in-situ electrical metrology for test-to-failure BGA component shock margin assessment
von
Uppalapati, R.
,
Goyal, S.
,
Williams, M.
,
Parupalli, S.
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2
Board Design Influence on BGA Mechanical Reliability
von
Uppalapati, R.V.
,
Leiser, K.
,
Van Sickle, M.
,
Parupalli, S.
,
Vasudevan, V.
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3
Measurement and prediction of reliability for double-sided area array assemblies
von
Meifunas, M.
,
Pitarresi, J.M.
,
Primavera, A.
,
Mandepudi, S.K.
,
Parupalli, S.
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4
Corrosion Studies on Gold-Plated Electrical Contacts
von
Meyyappan, Karumbu
,
Murtagian, Gregorio
,
Kurella, Anil
,
Pathangey, Balu
,
McAllister, Alan
,
Parupalli, Satish
Veröffentlicht in
IEEE transactions on device and materials reliability
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Bis:
1400 : 2026
1400
2026
Quelle
Ieee Power & Energy Library
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4
Ieee Electronic Library (Iel)
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4
Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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3
Ingenta Connect
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