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    On-chip temperature control circuit using common devices

    On-chip temperature control circuit using common devices von Braun, F.D., Parent, D.W., Papalias, T.A.


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  2. 2
    Work in progress -test engineering program

    Work in progress -test engineering program von Papalias, T.A., DeWilkins, W., Harooni, S.


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    Academic Development in Test Engineering

    Academic Development in Test Engineering von Papalias, T.A., Gonzalez, R.B., Gurtovoy, F.


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