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Large-Scale SRAM Variability Characterization in 45 nm CMOS
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Measurements and Analysis of Process Variability in 90 nm CMOS
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Ionic partial molar volumes in non-aqueous solvents
Veröffentlicht in Journal of the Chemical Society. Faraday transactions
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