Suchergebnisse - PRATAPGARHWALA MUSTANSIR M | OPAC THWS

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Proton and gamma radiation effects in a new first-generation SiGe HBT technology von Haugerud, Becca M., Pratapgarhwala, Mustansir M., Comeau, Jonathan P., Sutton, Akil K., Prakash, A.P. Gnana, Cressler, John D., Marshall, Paul W., Marshall, Cheryl J., Ladbury, Ray L., El-Diwany, Monir, Mitchell, Courtney, Rockett, Leonard, Bach, Tuyet, Lawrence, Reed, Haddad, Nadim

Veröffentlicht in Solid-state electronics

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COOLING DEVICE AWARE PROCESSOR von PRATAPGARHWALA, MUSTANSIR M, HELBERG, CHRISTOPHER M, JAGGERS, CHRISTOPHER M

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COMPONENT COOLER FOR A COMPUTING DEVICE von HELBERG, Christopher M, JAGGERS, Christopher M, PRATAPGARHWALA, Mustansir M, RADKE, Robert Edward, AUSTIN, Michael J, SHENOY, Sukesh

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COMPONENT COOLER FOR A COMPUTING DEVICE von SHENOY, SUKESH, PRATAPGARHWALA, MUSTANSIR M, AUSTIN, MICHAEL J, RADKE, ROBERT EDWARD, HELBERG, CHRISTOPHER M, JAGGERS, CHRISTOPHER M

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AUTOMATIC PART TESTING von AHRENS, Jerry A, PRATAPGARHWALA, Mustansir M, HARWANI, Anil, ALVERSON, William R, MEHRA, Amitabh, LEY, Grant E, SWANSTROM, Scott E

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Automatic part testing von Pratapgarhwala, Mustansir M, Harwani, Anil, Ahrens, Jerry A, Swanstrom, Scott E, Mehra, Amitabh, Ley, Grant E, Alverson, William R

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AUTOMATIC PART TESTING von MEHRA, AMITABH, HARWANI, ANIL, SWANSTROM, SCOTT E, PRATAPGARHWALA, MUSTANSIR M, ALVERSON, WILLIAM R, AHRENS, JERRY A, LEY, GRANT E

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Automatic part testing von Pratapgarhwala, Mustansir M, Harwani, Anil, Ahrens, Jerry A, Swanstrom, Scott E, Mehra, Amitabh, Ley, Grant E, Alverson, William R

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AUTOMATIC PART TESTING von AHRENS, Jerry A, PRATAPGARHWALA, Mustansir M, HARWANI, Anil, ALVERSON, William R, MEHRA, Amitabh, LEY, Grant E, SWANSTROM, Scott E

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AUTOMATIC PART TESTING von MEHRA, AMITABH, HARWANI, ANIL, SWANSTROM, SCOTT E, PRATAPGARHWALA, MUSTANSIR M, ALVERSON, WILLIAM R, AHRENS, JERRY A, LEY, GRANT E

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자동 부품 테스트 von LEY GRANT E, ALVERSON WILLIAM R, PRATAPGARHWALA MUSTANSIR M, HARWANI ANIL, SWANSTROM SCOTT E, MEHRA AMITABH, AHRENS JERRY A

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