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Error function for interpretations of ellipsometric measurements
Veröffentlicht in Thin solid films
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Analysis of general ambiguity of inverse ellipsometric problem
Veröffentlicht in Thin solid films
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High operating temperature SWIR p+–n FPA based on MBE-grown HgCdTe/Si(013)
Veröffentlicht in Infrared physics & technology
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Optical anisotropy of Langmuir-Blodgett films of long-chain acetylenic acids
Veröffentlicht in Optics and spectroscopy
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Calibration of photodetectors in IR microscopes
Veröffentlicht in Optoelectronics, instrumentation, and data processing
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