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    Understanding metric-related pitfalls in image analysis validation von Reinke, Annika, Tizabi, Minu D, Baumgartner, Michael, Eisenmann, Matthias, Heckmann-Nötzel, Doreen, Kavur, A Emre, Rädsch, Tim, Sudre, Carole H, Acion, Laura, Antonelli, Michela, Arbel, Tal, Bakas, Spyridon, Benis, Arriel, Blaschko, Matthew, Buettner, Florian, Cardoso, M Jorge, Cheplygina, Veronika, Chen, Jianxu, Christodoulou, Evangelia, Cimini, Beth A, Collins, Gary S, Farahani, Keyvan, Ferrer, Luciana, Galdran, Adrian, van Ginneken, Bram, Glocker, Ben, Godau, Patrick, Haase, Robert, Hashimoto, Daniel A, Hoffman, Michael M, Huisman, Merel, Isensee, Fabian, Jannin, Pierre, Kahn, Charles E, Kainmueller, Dagmar, Kainz, Bernhard, Karargyris, Alexandros, Karthikesalingam, Alan, Kenngott, Hannes, Kleesiek, Jens, Kofler, Florian, Kooi, Thijs, Kopp-Schneider, Annette, Kozubek, Michal, Kreshuk, Anna, Kurc, Tahsin, Landman, Bennett A, Litjens, Geert, Madani, Amin, Maier-Hein, Klaus, Martel, Anne L, Mattson, Peter, Meijering, Erik, Menze, Bjoern, Moons, Karel G M, Müller, Henning, Nichyporuk, Brennan, Nickel, Felix, Petersen, Jens, Rafelski, Susanne M, Rajpoot, Nasir, Reyes, Mauricio, Riegler, Michael A, Rieke, Nicola, Saez-Rodriguez, Julio, Sánchez, Clara I, Shetty, Shravya, van Smeden, Maarten, Summers, Ronald M, Taha, Abdel A, Tiulpin, Aleksei, Tsaftaris, Sotirios A, Calster, Ben Van, Varoquaux, Gaël, Wiesenfarth, Manuel, Yaniv, Ziv R, Jäger, Paul F, Maier-Hein, Lena

    Veröffentlicht in ArXiv.org

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    Artikel
  19. 19
  20. 20