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    Correlation between channel hot-electron degradation and radiation-induced interface trapping in MOS devices

    Correlation between channel hot-electron degradation and radiation-induced interface trapping in MOS devices von Palkuti, L.J., Ormond, R.D., Hu, C., Chung, J.


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    Large-Scale Variation in Assemblage Structure of Red Sea Butterflyfishes and Angelfishes

    Large-Scale Variation in Assemblage Structure of Red Sea Butterflyfishes and Angelfishes von Roberts, Callum M., Alexander R. Dawson Shepherd, Rupert F. G. Ormond

    Veröffentlicht in Journal of biogeography

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