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    X-ray multiple diffraction on the shallow junction of B in Si(0 0 1)

    X-ray multiple diffraction on the shallow junction of B in Si(0 0 1) von Orloski, R.V., Pudenzi, M.A.A., Hayashi, M.A., Swart, J.W., Cardoso, L.P.


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    Weighted oscillator strengths and lifetimes for the Si VIII spectrum

    Weighted oscillator strengths and lifetimes for the Si VIII spectrum von Orloski, R.V, Trigueiros, A.G


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    Weighted oscillator strengths and lifetimes for the Si II spectrum

    Weighted oscillator strengths and lifetimes for the Si II spectrum von Cavalcanti, G.H., Borges, F.O., Mania, A.J., Orloski, R.V., Trigueiros, A.G.


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    WEIGHTED OSCILLATOR STRENGTHS AND LIFETIMES FOR THE Si IX SPECTRUM

    WEIGHTED OSCILLATOR STRENGTHS AND LIFETIMES FOR THE Si IX SPECTRUM von ORLOSKI, R.V., TRIGUEIROS, A.G., CAVALCANTI, G.H.


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