Suchergebnisse - Orbon, Jacob J | OPAC THWS

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SYSTEMS, METHODS AND APPARATUS THAT EMPLOY STATISTICAL ANALYSIS OF STRUCTURAL TEST INFORMATION TO IDENTIFY YIELD LOSS MECHANISMS von VOLKERINK Eric, ORBON Jacob J

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SYSTEMS, METHODS AND APPARATUS THAT EMPLOY STATISTICAL ANALYSIS OF STRUCTURAL TEST INFORMATION TO IDENTIFY YIELD LOSS MECHANISMS von ORBON, JACOB, J, VOLKERINK, ERIK, H

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Method for operating a secure semiconductor IP server to support failure analysis von Dokken, Richard C, Chan, Gerald S, Orbon, Jacob J, Crouch, Alfred L

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Method for operating a secure semiconductor IP server to support failure analysis von CROUCH ALFRED L, DOKKEN RICHARD C, ORBON JACOB J, CHAN GERALD S

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Grouping systematic defects with feedback from electrical inspection von RAVID EREZ, BOKOBZA OFER, SVIDENKO VICKY, SHIMSHI RINAT, ORBON JACOB J, BEN-PORATH ARIEL, NEHMADI YOUVAL

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Grouping systematic defects with feedback from electrical inspection von Orbon, Jacob J, Nehmadi, Youval, Bokobza, Ofer, Ben-Porath, Ariel, Ravid, Erez, Shimshi, Rinat, Svidenko, Vicky

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7

METHOD FOR OPERATING A SECURE SEMICONDUCTOR IP SERVER TO SUPPORT FAILURE ANALYSIS von CROUCH ALFRED L, DOKKEN RICHARD C, ORBON JACOB J, CHAN GERALD S

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8

GROUPING SYSTEMATIC DEFECTS WITH FEEDBACK FROM ELECTRICAL INSPECTION von RAVID EREZ, BOKOBZA OFER, SVIDENKO VICKY, SHIMSHI RINAT, ORBON JACOB J, BEN-PORATH ARIEL, NEHMADI YOUVAL

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Design-based method for grouping systematic defects in lithography pattern writing system von Nehmadi, Youval, Bokobza, Ofer, Ben-Porath, Ariel, Ravid, Erez, Shishi, Rinat, Svidenko, Vicky, Almogy, Gilad, Orbon, Jr, Jacob J

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10

Design-based method for grouping systematic defects in lithography pattern writing system von RAVID EREZ, ALMOGY GILAD, SHISHI RINAT, BOKOBZA OFER, SVIDENKO VICKY, ORBON, JR. JACOB J, BEN-PORATH ARIEL, NEHMADI YOUVAL

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11

DESIGN-BASED MONITORING von PHUA JOSEPHINE, BOKOBZA OFER, LEVIN EVGENY, ORBON, JR. JACOB JOSEPH, BEN-PORATH ARIEL, NEHMADI YOUVAL

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12

Design-based monitoring von PHUA JOSEPHINE, BOKOBZA OFER, LEVIN EVGENY, ORBON, JR. JACOB JOSEPH, BEN-PORATH ARIEL, NEHMADI YOUVAL

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Unified fault management using Logic Built-In Self-Test and logic bitmap von Kay, D., Tran, L., Kamm, M., Orbon, J.

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