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Suchergebnisse - Olikhovskii, S. J.
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1
Unique Informativity of the Diffuse Dynamical Combined Diffractometry of Materials and Products of Nanotechnologies
von
Shpak, A. P.
,
Koval’chuk, M. V.
,
Karnaukhov, I. M.
,
Molodkin, V. V.
,
Len, E. G.
,
Nizkova, A. I.
,
Olikhovskii, S. J.
,
Sheludchenko, B. V.
,
Ice, G. E.
,
Barabash, R. I.
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Uspehi Fiziki Metallov
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2
Calculation of two-dimensional maps of diffuse scattering by a real crystal with microdefects and comparison of results obtained from three-crystal diffractometry
von
Klad`ko, V P
,
Datsenko, L I
,
Bak-Misiuk, J
,
Olikhovskii, S I
,
Machulin, V F
,
Prokopenko, I V
,
Molodkin, V B
,
Maksimenko, Z V
Veröffentlicht in
Journal of physics. D, Applied physics
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Journal Of Physics. D, Applied Physics
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Uspehi Fiziki Metallov
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Schlagworte
Condensed Matter: Structure, Mechanical And Thermal Properties
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Defects And Impurities In Crystals; Microstructure
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1
Defects And Impurities: Doping, Implantation, Distribution, Concentration, Etc
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Direct Observation Of Dislocations And Other Defects
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Exact Sciences And Technology
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Single-Crystal And Powder Diffraction
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Structure Of Solids And Liquids; Crystallography
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Surfaces And Interfaces; Thin Films And Whiskers
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Thin Film Structure And Morphology
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X-Ray Diffraction And Scattering
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Erscheinungsjahr
Von:
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Quelle
Iop Publishing Journals
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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Doaj Directory Of Open Access Journals
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Science Citation Index Expanded (Web Of Science)
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Iopscience Extra
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Ezb-Free-00999 Freely Available Ezb Journals
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1