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    Leakage current mechanism in sub-micron polysilicon thin-film transistors

    Leakage current mechanism in sub-micron polysilicon thin-film transistors von Olasupo, K.R., Hatalis, M.K.


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    Time dependent breakdown of ultrathin gate oxide

    Time dependent breakdown of ultrathin gate oxide von Yassine, A.M., Nariman, H.E., McBride, M., Uzer, M., Olasupo, K.R.


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    The effect of drain offset on current-voltage characteristics in sub micron polysilicon thin-film transistors

    The effect of drain offset on current-voltage characteristics in sub micron polysilicon thin-film transistors von Olasupo, K.R., Yarbrough, W., Hatalis, M.K.


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