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Reduction of long range fogging effect in a high acceleration voltage electron beam mask writing system
von
Ogasawara, Munehiro
,
Shimomura, Naoharu
,
Takamatsu, Jun
,
Yoshitake, Shusuke
,
Ooki, Kenji
,
Nakayamada, Noriaki
,
Okabe, Humiyuki
,
Tojo, Toru
,
Takigawa, Tadahiro
Veröffentlicht in
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures
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