Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
Ohnishi, Baku
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Ohnishi, Baku
Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
Ohnishi, Baku
'
, Suchdauer: 0,62s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Fabrication and Evaluation of YBa 2 Cu 3 O 7-δ Probe for Scanning Probe Microscopy
von
Ariyoshi, Seiichiro
,
Ebata, Atsushi
,
Ohnishi, Baku
,
Ohnishi, Satoshi
,
Kanada, Takafumi
,
Hayashi, Kanji
,
Miyato, Yuji
,
Tanaka, Saburo
,
Hiroshiba, Nobuya
Veröffentlicht in
IEEE transactions on applied superconductivity
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Fabrication and Evaluation of YBa2Cu3O7-δ Probe for Scanning Probe Microscopy
von
Ariyoshi, Seiichiro
,
Ebata, Atsushi
,
Ohnishi, Baku
,
Ohnishi, Satoshi
,
Kanada, Takafumi
,
Hayashi, Kanji
,
Miyato, Yuji
,
Tanaka, Saburo
,
Hiroshiba, Nobuya
Veröffentlicht in
IEEE transactions on applied superconductivity
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Peer Reviewed
2 Treffer
2
Online Resources
2 Treffer
2
Format
Articles
2 Treffer
2
Zeitschriftentitel
Ieee Transactions On Applied Superconductivity
2 Treffer
2
Schlagworte
Atomic Force Microscopy
1 Treffer
1
Chemical Composition
1 Treffer
1
Cuprate Superconductor
1 Treffer
1
Engineering
1 Treffer
1
Engineering, Electrical & Electronic
1 Treffer
1
Gallium
1 Treffer
1
High Temperature
1 Treffer
1
Ion Beams
1 Treffer
1
Josephson Junctions
1 Treffer
1
Junctions
1 Treffer
1
Microscopy
1 Treffer
1
Penetration Depth
1 Treffer
1
Physical Sciences
1 Treffer
1
Physics
1 Treffer
1
Physics, Applied
1 Treffer
1
Probes
1 Treffer
1
Radius Of Curvature
1 Treffer
1
Scanning Probe Microscopy
1 Treffer
1
Science & Technology
1 Treffer
1
Superconducting Devices
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Ieee Power & Energy Library
2 Treffer
2
Ieee Electronic Library Online
2 Treffer
2
Ingenta
2 Treffer
2
Science Citation Index Expanded (Web Of Science)
1 Treffer
1