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Charge transport mechanism in lead oxide revealed by CELIV technique
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Structural characteristics of gallium metal deposited on Si (001) by MOCVD
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Composition determination of semiconductor alloys towards atomic accuracy by HAADF-STEM
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Transport of electrons in lead oxide studied by CELIV technique
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Theory to carrier recombination in organic disordered semiconductors
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Field dependence of hopping mobility: Lattice models against spatial disorder
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Release of carriers from traps enhanced by hopping
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Field-enhanced mobility in the multiple-trapping regime
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Percolation description of charge transport in amorphous oxide semiconductors
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Percolation description of charge transport in amorphous oxide semiconductors
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