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    Ellipsometric Analysis of Cadmium Telluride Films’ Structure

    Ellipsometric Analysis of Cadmium Telluride Films’ Structure von Sizov, Fedir, Vuichyk, Mykola, Odarych, Volodymyr, Evmenova, Anna


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    Ellipsometric study of the porous silicon: The impact of decoration and oxidation on porosity depth profiling

    Ellipsometric study of the porous silicon: The impact of decoration and oxidation on porosity depth profiling von Odarych, Volodymyr, Poperenko, Leonid, Yurgelevych, Iryna, Lishchuk, Pavlo


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    Charge-carrier relaxation in sonochemically fabricated dendronized CaSiO3–SiO2–Si nanoheterostructures

    Charge-carrier relaxation in sonochemically fabricated dendronized CaSiO3–SiO2–Si nanoheterostructures von Savkina, Rada, Smirnov, Aleksey, Kirilova, Svitlana, Shmid, Volodymyr, Podolian, Artem, Nadtochiy, Andriy, Odarych, Volodymyr, Korotchenkov, Oleg

    Veröffentlicht in Applied nanoscience

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    Laser-Induced Modification of the Surface State and Optical Properties of CdTe Crystals

    Laser-Induced Modification of the Surface State and Optical Properties of CdTe Crystals von Aoki, Toru, Gnatyuk, Dmytro V., Odarych, Volodymyr A., Levytskyi, Sergiy N., Poperenko, Leonid V., Yurgelevich, Iryna V.


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    Tagungsbericht

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    ELLIPSOMETER

    ELLIPSOMETER von MAKARA VOLODYMYR ARSENIIOVYCH, ODARYCH VOLODYMYR ANDRIIOVYCH, RUDENKO OLHA VASYLIVNA, KEPYCH TIBERII YURIIOVYCH, PREOBRAZHENSKA TAMARA DMYTRIVNA

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    Patent

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