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Observations of IMC Formation for Au Wire Bonds to Al Pads
Veröffentlicht in Journal of electronic materials
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Creep and its effect on Sn whisker growth
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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System-on-Chip Photonic Integrated Circuits
Veröffentlicht in IEEE journal of selected topics in quantum electronics
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Corrosion-induced degradation of microelectronic devices
Veröffentlicht in Semiconductor science and technology
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ENIG Corrosion Induced by Second-Phase Precipitation
Veröffentlicht in Journal of electronic materials
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