-
1
Preparation and Observation technique for the Nanostructured Material Analysis
Veröffentlicht in Hyōmen gijutsu
VolltextArtikel -
2
A FIB Micro-Sampling Technique for Three-Dimensional Characterization of a Site-Specific Defect
Veröffentlicht in Microscopy today
VolltextMagazinearticle