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Surface impurities encapsulated by silicon wafer bonding
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Design of bipolar imaging devices (BASIS): analysis of random noise
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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Design of bipolar imaging device (BASIS)
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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