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Modeling Transient Negative Capacitance in Steep-Slope FeFETs
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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A logic nanotechnology featuring strained-silicon
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Band-to-Band Tunneling in Ge-Rich SiGe Devices
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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A 90-nm logic technology featuring strained-silicon
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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(Invited) Strain Modeling in Advanced MOSFET Devices
Veröffentlicht in Meeting abstracts (Electrochemical Society)
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