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Inversion domains in GaN grown on sapphire
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Defects in p-doped bulk GaN crystals grown with Ga polarity
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Electron microscopy at 1-Å resolution by entropy maximization and likelihood ranking
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Deceptive “lattice spacings” in high-resolution micrographs of metal nanoparticles
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“Resolution” in high-resolution electron microscopy
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Computed crystal structure images for high resolution electron microscopy
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Atomic imaging of 3:2 mullite
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PPEREM: Post-Processed Extended-Resolution Electron Microscopy
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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