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Studies of the Ti-W/Au metallization on aluminum
Veröffentlicht in Thin solid films
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Studies of the Ti‐W Metallization System on Si
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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Methods for minimizing silicon regrowth in aluminum films
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Studies of silicon regrowth with aluminum and aluminum alloy metallizations
Veröffentlicht in Thin solid films
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Studies of CrNAu as an improved die attach metallization system
Veröffentlicht in Thin solid films
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The Measurement of Emotional Intensity from Facial Expressions
Veröffentlicht in The Journal of social psychology
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Thermal annealing study of Au/TiW metallization on silicon
Veröffentlicht in Thin solid films
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