Suchergebnisse - Noifeld Efrat | OPAC THWS

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Method, system and computer program product for 3D-NAND CDSEM metrology von Vereschagin, Vadim, Meir, Roi, Noifeld, Efrat, Kris, Roman, Miroku, Hiroshi, Levin, Sahar, Klebanov, Grigory, Yoshizawa, Taku, Duvdevani-Bar, Sharon, Saha, Kasturi, Schwarzband, Ishai, Levi, Shimon

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METHOD, SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR 3D-NAND CDSEM METROLOGY von DUVDEVANI-BAR, Sharon, YOSHIZAWA, Taku, SAHA, Kasturi, NOIFELD, Efrat, VERESCHAGIN, Vadim, KLEBANOV, Grigory, MIROKU, Hiroshi, SCHWARZBAND, Ishai, KRIS, Roman, MEIR, Roi, LEVIN, Sahar, LEVI, Shimon

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METHOD, SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR 3D-NAND CDSEM METROLOGY von DUVDEVANI-BAR, Sharon, YOSHIZAWA, Taku, SAHA, Kasturi, NOIFELD, Efrat, VERESCHAGIN, Vadim, KLEBANOV, Grigory, MIROKU, Hiroshi, SCHWARZBAND, Ishai, KRIS, Roman, MEIR, Roi, LEVIN, Sahar, LEVI, Shimon

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CD-SEM technique for wafers fabrication control von Weinberg Yakov, Schwarzband Ishai, Noifeld Efrat, Lange Dan, Kris Roman, Ivanchenko Yan, Englander Arbel, Shoval Ori, Goldman Ran

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CD-SEM TECHNIQUE FOR WAFERS FABRICATION CONTROL von KRIS Roman, GOLDMAN Ran, SCHWARZBAND Ishai, ENGLANDER Arbel, NOIFELD Efrat, IVANCHENKO Yan, SHOVAL Ori, WEINBERG Yakov, LANGE Dan

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METHOD, SYSTEM AND COMPUTER MEDIUM FOR PROCESS CONTROL OF SEMICONDUCTOR STRUCTURE INCLUDING STAIRCASE von LEVIN, SAHAR, NOIFELD, EFRAT, MIROKU, HIROSHI, VERESCHAGIN, VADIM, LEVI, SHIMON, KRIS, ROMAN, SAHA, KASTURI, DUVDEVANI-BAR, SHARON, SCHWARZBAND, ISHAI, YOSHIZAWA, TAKU, MEIR, ROI, KLEBANOV, GRIGORY

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3D-NAND CDSEM 계측을 위한 방법, 시스템, 및 컴퓨터 프로그램 제품 von MEIR ROI, DUVDEVANI BAR SHARON, LEVIN SAHAR, LEVI SHIMON, MIROKU HIROSHI, YOSHIZAWA TAKU, KLEBANOV GRIGORY, SAHA KASTURI, SCHWARZBAND ISHAI, NOIFELD EFRAT, KRIS ROMAN, VERESCHAGIN VADIM

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METHOD, SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR 3D-NAND CDSEM METROLOGY von MEIR ROI, LEVIN SAHAR, LEVI SHIMON, MIROKU HIROSHI, YOSHIZAWA TAKU, KLEBANOV GRIGORY, SAHA KASTURI, SCHWARZBAND ISHAI, NOIFELD EFRAT, DUVDEVANI-BAR SHARON, KRIS ROMAN, VERESCHAGIN VADIM

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Method, system and computer program product for 3D-NAND CDSEM metrology von LEVIN, SAHAR, NOIFELD, EFRAT, MIROKU, HIROSHI, VERESCHAGIN, VADIM, LEVI, SHIMON, KRIS, ROMAN, SAHA, KASTURI, DUVDEVANI-BAR, SHARON, SCHWARZBAND, ISHAI, YOSHIZAWA, TAKU, MEIR, ROI, KLEBANOV, GRIGORY

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