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AuRORA: A Full-Stack Solution for Scalable and Virtualized Accelerator Integration
Veröffentlicht in IEEE MICRO
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Characterization of Dynamic SRAM Stability in 45 nm CMOS
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Large-Scale SRAM Variability Characterization in 45 nm CMOS
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Measurements and Analysis of Process Variability in 90 nm CMOS
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Design in the Power-Limited Scaling Regime
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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