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Spectral and X-Ray Studies of Indium Oxide Films on Sapphire Substrates
Veröffentlicht in Optics and spectroscopy
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Optical Characteristics of Thin Films of In2O3 and ITO
Veröffentlicht in Journal of applied spectroscopy
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Features of interpreting ellipsometric measurement results
Veröffentlicht in Optics and spectroscopy
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Thermal boundary resistance of a granular film-substrate interface
Veröffentlicht in Technical physics letters
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