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    Analysis of atomic force microscopy data for surface characterization using fuzzy logic

    Analysis of atomic force microscopy data for surface characterization using fuzzy logic von Al-Mousa, Amjed, Niemann, Darrell L., Niemann, Devin J., Gunther, Norman G., Rahman, Mahmud

    Veröffentlicht in Materials characterization

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    Surface-independent structure characterization using fuzzy logic

    Surface-independent structure characterization using fuzzy logic von Al-Mousa, A., Niemann, D.L., Niemann, D.J., Gunther, N.G., Rahman, M.

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