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Simple method for determining Si p-n junction depth using anodization
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Deposition and characterization of copper oxide thin films
Veröffentlicht in Journal of physics. Conference series
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Photoluminescence from nanocrystalline silicon in Si/SiO2 superlattices
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Frontside bulk silicon micromachining using porous-silicon technology
Veröffentlicht in Sensors and actuators. A. Physical.
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