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Charge-trapping defects in Cat-CVD silicon nitride films
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Kink effect related to the self-side-gating effect in GaAs MESFET's
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Electron and hole impact ionization coefficients in GaAs-AlxGa1-xAs superlattices
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Si donor neutralization in high-purity GaAs
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A In0.53Ga0.47As-In0.52Al0.48As single quantum well field-effect transistor
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