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On hillocks generated during anisotropic etching of Si in TMAH
Veröffentlicht in Journal of microelectromechanical systems
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Exact Anisotropic Solutions of the Generalized TOV Equation
Veröffentlicht in arXiv.org
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Effects of hot-carrier stress on the performance of CMOS low-noise amplifiers
Veröffentlicht in IEEE transactions on device and materials reliability
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