Modeling of chemical-mechanical polishing: a review von Nanz, G., Camilletti, L.E.

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Calculation of contact currents in device simulation von Nanz, G., Dickinger, P., Selberherr, S.

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Self-adaptive space and time grids in device simulation von Nanz, G., Kausel, W., Selberherr, S.

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Two-dimensional transient simulation of the turn-off behavior of a planar MOS-transistor von Kausel, W., Poetzl, H., Nanz, G., Selberherr, S.

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Measurement and simulation of degradation effects in high voltage DMOS devices von Dickinger, P., Nanz, G., Selberherr, S.

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Mikroelektronik 87: Berichte der Informationstagung ME 87 von Hoffmann, G, Holzmann, D, Jager, F, Riedling, K, Schwuttke, G. H, Pandelisev, K. A, White, R. C, Holzmann, H, Kausel, W, Nanz, G, Selberherr, S, Potzl, H, Leopold, H, Rohrer, R, Winkler, G, Thurner, M, Seiner, K, Tritremmel, W, Walther, G, Schoitsch, Erwin, Hertl, S, Schaffar, G, Schmidt, K, Steinbrecher, H, Voggenberger, F, Windischhofer, W, Turba, R, Grabner, J, Aberl, H, Seifert, F, Buschbeck, F, Wallisch, K, Eichtinger, Ch, Wach, P, Bittinger, W, Kainz, A, Jestl, M, Beinstingl, W, Berthold, K, Kock, A, Gornik, E, Kloiber, G, Kreid, F, Schrocker, K. P, Schrodl, M, Brazda, E, Niedrist, G, Dietz, K, Fey, P, Frenkenberger, S, Furtner, M, Dejneka, B, Goiser, A, Sust, M, Kowatsch, M, Jorde, Ch, Thallinger, G. G, Mothwurf, E, Schubert, E, Steger, J, Trzeba, E, Awramow, I, Pucher, R, Auer, L. M, Schuy, S, Schima, H, Huber, L, Prodinger, A, Schmallegger, H, Thoma, H, Stohr, H, Mayr, W, Steiner, R, Wiedenbauer, O, List, G, Wiepeiner, G, Petsch, Th, Doblhoff, G, Kirchner, D, Koudelka, O, Gierlinger, A, Ullrich, A, Braune, B, Horvat, H, Mayer, U, Gauby, A, Richter, A, Spiess, K. R, Klosch, W, Bock, N, Rosenkranz, H, Mitter, H, Hengl, M, Nussbaum, G, Gutternigh, K, Hahn, H, Koutny, P, P, K

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Modeling of chemical-mechanical polishing : a review : Special section on TCAD : process modeling von NANZ, G, CAMILLETTI, L. E

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On-Resistance in the ALDMOST von Nanz, G., Dickinger, P., Kausel, W., Selberherr, S.

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Finite difference, boundary-fitted grid generation for arbitrarily shaped two-dimensional simulation areas von Fischer, Claus, Nanz, Gerd, Selberherr, Siegfried

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BAMBI — A transient 2D-MESFET model with general boundary conditions including Schottky and current controlled contacts von Kausel, W., Nylander, J.O., Nanz, G., Selberherr, S., Poetzl, H.

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Self-adaptive space grids in process simulation von Nanz, Gerd

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Mikroelektronik 87: Berichte der Informationstagung ME 87 von Hoffmann, G, Holzmann, D, Jäger, F, Riedling, K, Schwuttke, G. H, Pandelisev, K. A, White, R. C, Holzmann, H, Kausel, W, Nanz, G

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A B-splines Regression Technique to Determine One-Dimensional MOS Doping Profiles von Khalil, N., Nanz, G., Rios, R., Selberherr, S.

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Characteristics, potentials, and challenges of transdisciplinary research von Lawrence, Mark G., Williams, Stephen, Nanz, Patrizia, Renn, Ortwin

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An overview of CEST MRI for non-MR physicists von Wu, B., Warnock, G., Zaiss, M., Lin, C., Chen, M., Zhou, Z., Mu, L., Nanz, D., Tuura, R., Delso, G.

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Bisphosphonate-induced osteonecrosis of the jaw: comparison of disease extent on contrast-enhanced MR imaging, [18F] fluoride PET/CT, and conebeam CT imaging von Guggenberger, R, Fischer, D R, Metzler, P, Andreisek, G, Nanz, D, Jacobsen, C, Schmid, D T

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Independent dose calculations for commissioning, quality assurance and dose reconstruction of PBS proton therapy von Meier, G, Besson, R, Nanz, A, Safai, S, Lomax, A J

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First clinical implementation of a highly efficient daily online adapted proton therapy (DAPT) workflow von Albertini, F, Czerska, K, Vazquez, M, Andaca, I, Bachtiary, B, Besson, R, Bolsi, A, Bogaert, A, Choulilitsa, E, Hrbacek, J, Jakobsen, S, Leiser, D, Matter, M, Mayor, A, Meier, G, Nanz, A, Nenoff, L, Oxley, D, Siewert, D, Rohrer Schnidrig, B A, Smolders, A, Szweda, H, Van Heerden, M, Winterhalter, C, Lomax, AJ, Weber, DC

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Zwei-Dimensionale Transiente Simulation des Einschaltverhaltens eines Planaren MOS-Transistors von Kausel, W., Nanz, G., Selberherr, S., Pötzl, H.

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Assessment of myocardial perfusion in coronary artery disease by magnetic resonance : A comparison with positron emission tomography and coronary angiography von SCHWITTER, J, NANZ, D, KNEIFEL, S, BERTSCHINGER, K, BÜCHI, M, KNÜSEL, P. R, MARINCEK, B, LÜSCHER, T. F, VON SCHULTHESS, G. K

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