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    Characterization of Silicon Dioxide Films on a 4H-SiC Si(0001) Face by Fourier Transform Infrared (FT-IR) Spectroscopy and Cathodoluminescence Spectroscopy

    Characterization of Silicon Dioxide Films on a 4H-SiC Si(0001) Face by Fourier Transform Infrared (FT-IR) Spectroscopy and Cathodoluminescence Spectroscopy von Yoshikawa, Masanobu, Seki, Hirohumi, Inoue, Keiko, Matsuda, Keiko, Tanahashi, Yusaku, Sako, Hideki, Nanen, Yuihiro, Kato, Muneharu, Kimoto, Tsunenobu

    Veröffentlicht in Applied spectroscopy

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