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Microscopic physical origin of charge traps in 3D NAND flash memories
von
Nanataki, Fugo
,
Iwata, Jun-Ichi
,
Chokawa, Kenta
,
Araidai, Masaaki
,
Oshiyama, Atsushi
,
Shiraishi, Kenji
Veröffentlicht in
Japanese Journal of Applied Physics
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Atomic and electronic structures of nitrogen vacancies in silicon nitride: Emergence of floating gap states
von
Nanataki, Fugo
,
Shiraishi, Kenji
,
Iwata, Jun-ichi
,
Matsushita, Yu-ichiro
,
Oshiyama, Atsushi
Veröffentlicht in
Physical review. B
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Technology
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Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
American Physical Society Journals
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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Iopscience Extra
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