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1
Life prediction for CIGS solar modules part 2: degradation kinetics, accelerated testing, and encapsulant effects
von
Coyle, Dennis J.
,
Blaydes, Holly A.
,
Northey, Rebecca S.
,
Pickett, James E.
,
Nagarkar, Kaustubh R.
,
Zhao, Ri-An
,
Gardner, James O.
Veröffentlicht in
Progress in photovoltaics
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Artikel
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2
OPTICAL ARTICLE HAVING AN ELECTRICALLY RESPONSIVE LAYER AS AN ANTI-THEFT FEATURE AND A SYSTEM AND METHOD FOR INHIBITING THEFT
von
WISNUDEL MARC B
,
NAGARKAR KAUSTUBH R
,
PETERS ANDREA J
,
PATEL BEN P
,
KRISHNAN KASIRAMAN
,
MISNER MATTHEW J
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3
OPTICAL ARTICLE HAVING AN ELECTRICALLY RESPONSIVE LAYER AS AN ANTI-THEFT FEATURE AND A SYSTEM AND METHOD FOR INHIBITING THEFT
von
WISNUDEL MARC B
,
NAGARKAR KAUSTUBH R
,
PETERS ANDREA J
,
PATEL BEN P
,
KRISHNAN KASIRAMAN
,
MISNER MATTHEW J
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4
ELECTRICALLY RESPONSIVE INK AND COATING COMPOSITIONS AND METHODS FOR ACTIVATION
von
WISNUDEL MARC B
,
NAGARKAR KAUSTUBH R
,
PETERS ANDREA J
,
WHITE JAMES M
,
PATEL BEN P
,
KRISHNAN KASIRAMAN
,
MISNER MATTHEW J
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Wafer level interconnection and method
von
ERLBAUM, JEFFREY SCOTT
,
NAGARKAR, KAUSTUBH RAVINDRA
,
BURDICK, JR. WILLIAM EDWARD
,
TONAPI, SANDEEP SHRIKANT
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6
Photon imaging system for detecting defects in photovoltaic devices, and method thereof
von
NAGARKAR KAUSTUBH RAVINDRA
,
BRAY JAMES WILLIAM
,
AHMAD FAISAL RAZI
,
SULIMA OLEG
,
ZHAO RI-AN
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7
Photon imaging system for detecting defects in photovoltaic devices, and method thereof
von
NAGARKAR, KAUSTUBH RAVINDRA
,
SULIMA, OLEG
,
AHMAD, FAISAL RAZI
,
ZHAO, RI-AN
,
BRAY, JAMES WILLIAM
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8
Photon imaging system for detecting defects in photovoltaic devices, and method thereof
von
NAGARKAR, KAUSTUBH RAVINDRA
,
SULIMA, OLEG
,
AHMAD, FAISAL RAZI
,
ZHAO, RI-AN
,
BRAY, JAMES WILLIAM
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9
PHOTON IMAGING SYSTEM FOR DETECTING DEFECTS IN PHOTOVOLTAIC DEVICES, AND METHOD THEREOF
von
NAGARKAR KAUSTUBH RAVINDRA
,
BRAY JAMES WILLIAM
,
AHMAD FAISAL RAZI
,
SULIMA OLEG
,
ZHAO RI-AN
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10
Wafer level interconnection and method
von
SANDEEP SHRIKANT TONAPI
,
WILLIAM EDWARD BURDICK JR
,
KAUSTUBH NAGARKAR
,
JEFFREY SCOTT ERLBAUM
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11
WAFER LEVEL INTERCONNECTION AND METHOD
von
NAGARKAR KAUSTUBH RAVINDRA
,
BURDICK, JR. WILLIAM EDWARD
,
ERLBAUM JEFFREY SCOTT
,
TONAPI SANDEEP SHRIKANT
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12
Wafer level interconnection and method
von
BURDICK, WILLIAM EDWARD, JR
,
ERLBAUM, JEFFREY SCOTT
,
NAGARKAR, KAUSTUBH RAVINDRA
,
TONAPI, SANDEEP SHRIKANT
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13
Photon imaging system for detecting defects in photovoltaic devices, and method thereof
von
NAGARKAR KAUSTUBH RAVINDRA
,
BRAY JAMES WILLIAM
,
AHMAD FAISAL RAZI
,
SULIMA OLEG
,
ZHAO RI-AN
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Semiconductor Devices
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Beschleunigte Prüfung
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Esp@Cenet
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