Suchergebnisse - NG, KWOK K | OPAC THWS

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Physics of Semiconductor Devices von Sze, Simon M, Ng, Kwok K

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2

A survey of semiconductor devices von Ng, K.K.

Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices

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3

Analysis of the gate-voltage-dependent series resistance of MOSFET's von Ng, K.K., Lynch, W.T.

Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices

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4

Effects of hot-carrier trapping in n- and p-channel MOSFET's von Ng, K.K., Taylor, G.W.

Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices

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5

Measuring the effective channel length of MOSFETs von Ng, K.K., Brews, J.R.

Veröffentlicht in IEEE circuits and devices magazine

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Metal‐Semiconductor Contacts

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Appendix G Properties of Si and GaAs

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8

Physics and Properties of Semiconductors—A Review

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Appendix F Properties of Important Semiconductors

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Appendix C Unit Prefixes

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MOSFETs

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Sensors

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Appendix B International System of Units

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Thyristors and Power Devices

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JFETs, MESFETs, and MODFETs

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Transferred‐Electron and Real‐Space‐Transfer Devices

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Appendix A List of Symbols

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Metal‐Insulator‐Semiconductor Capacitors

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Photodetectors and Solar Cells

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Device noise in silicon RF technologies von Martin, Samuel, Archer, Vance D., Boulin, David M., Frei, Michel R., Ng, Kwok K., Yan, Ran-Hong

Veröffentlicht in Bell Labs technical journal

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