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Chemical Infiltration through Deep UV Photoresist
Veröffentlicht in Solid state phenomena
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Wet Etchant Diffusion through Photoresist during Gate Oxide Patterning
Veröffentlicht in ECS transactions
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Acoustic Characterization of Patterning Degradation during Wet Etching
Veröffentlicht in ECS transactions
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Measuring individual‐level trait diversity: a critical assessment of methods
Veröffentlicht in Oikos
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