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SYSTEM AND METHOD FOR SIMULTANEOUS MONITORING OF MULTIELEMENT RATE, AND FILM DEPOSITION DEVICE AND FILM DEPOSITION METHOD
von
NAGAIE TAKEHIKO
,
HAN HIN
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OPTICAL FILM THICKNESS CONTROL DEVICE, THIN FILM FORMATION DEVICE, OPTICAL FILM THICKNESS CONTROL METHOD, AND THIN FILM FORMATION METHOD
von
HAN HIN
,
NAGAIE TAKEHIKO
,
ZHANG YONGLIN
,
KAWASAKI NAOKI
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THIN FILM FORMING APPARATUS, AND THIN FILM FORMING METHOD
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NAGAIE TAKEHIKO
,
HAN HIN
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TRANSMITTANCE MONITOR FOR MULTILAYER FILM
von
NAGAIE TAKEHIKO
,
OGAMI HIDEHARU
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5
APPARATUS AND METHOD FOR THIN FILM FORMATION AND OPTICAL FILM THICKNESS MONITORING DEVICE
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NAGAIE TAKEHIKO
,
FAN PING
,
SHIN TEI
,
NAMIKI KEIICHI
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6
VACUUM PROCESS DEVICE AND METHOD OF COOLING PROCESS OBJECT IN VACUUM PROCESS DEVICE
von
HAN HIN
,
NAGAIE TAKEHIKO
,
ZHANG YONGLIN
,
JEONG GUK BU
,
USUKI TORU
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7
METHOD OF CONTROLLING COMPOSITION OF MULTI-SOURCE DEPOSIT THIN FILM, AND MANUFACTURING APPARATUS
von
KOBAYASHI TAKAYUKI
,
HAN HIN
,
NAGAIE TAKEHIKO
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8
FILM DEPOSITION APPARATUS AND FILM DEPOSITION METHOD
von
HAN HIN
,
NAGAIE TAKEHIKO
,
KOJIMA TAKESHI
,
KANAZAWA TAKASHI
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9
MASK FOR FILM DEPOSITION, AND FILM DEPOSITION METHOD
von
HAN HIN
,
NAGAIE TAKEHIKO
,
MIURA TOSHIHIKO
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10
FILM THICKNESS QUALITY DISCRIMINATION METHOD OF THIN FILM LAYER
von
NAGAIE TAKEHIKO
,
NISHISATO HIROSHI
,
MIYA TAKESHI
,
NODA HIROSHI
,
WANG SHULIN
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11
Optical film forming direct type optical monitoring system and monitoring and measuring method thereof
von
JIANG ZIHAO
,
NAGAIE TAKEHIKO
,
LONG RULEI
,
ZHANG YONGLIN
,
MA HUI
,
SATO FUMIYA
,
XU BO
,
PAN SHUYUE
,
KAMIKAWA HISASHI
,
WANG YANG
,
WU PING
,
KAWASAKI NAOKI
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Patent
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