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Assembly and reliability of micro-bumped chips with Through-silicon Vias (TSV) interposer
von
Ong, Yue Ying
,
Chai, Tai Chong
,
Yu, Daquan
,
Thew, Meei Leng
,
Myo, Eipa
,
Wai, Leong Ching
,
Jong, Ming Chinq
,
Rao, Vempati Srinivasa
,
Su, Nandar
,
Zhang, Xiaowu
,
Damaruganath, Pinjala
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Ultra thinning of wafer for embedded wafer packaging
von
Lee Wen Sheng
,
Khan, N.
,
Kek, J.
,
Chua, H.S.
,
Tsutsumi, Y.
,
Yew, L.C.
,
Ho Soon Wee
,
Eipa, M.
,
Vempati, S.
,
Kripesh, V.
,
Sundaram, V.
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Assembly of large dies fine pitch Cu/low-k FCBGA package with through silicon via (TSV) interposer
von
Wai, Leong Ching
,
Zhang, Xiaowu
,
Chai, T.C.
,
Srinivas, Vempati Rao
,
Ho, David
,
Pinjala, D.
,
Myo, Eipa
,
Jong, M.C.
,
Lim, Sharon
,
Ong, Joe
,
Thew, Serene
,
Chen, Kelvin
,
Shekar, Varsala N.
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ieee Power & Energy Library
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