Treffer
1 - 10
von
10
für Suche '
Murabito, C.E.
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Murabito, C.E.
Treffer
1 - 10
von
10
für Suche '
Murabito, C.E.
'
, Suchdauer: 0,51s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Comparison of SEM and HRTEM CD Measurements Extracted From Test Structures Having Feature Linewidths From 40 to 240 nm
von
Cresswell, M.W.
,
Allen, R.A.
,
Guthrie, W.F.
,
Murabito, C.E.
,
Dixson, R.G.
,
Hunt, A.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on instrumentation and measurement
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Test structures for referencing electrical linewidth measurements to silicon lattice parameters using HRTEM
von
Allen, R.A.
,
am Ende, B.A.
,
Cresswell, M.W.
,
Murabito, C.E.
,
Headley, T.J.
,
Guthrie, W.F.
,
Linholm, L.W.
,
Ellenwood, C.H.
,
Bogardus, E.H.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on semiconductor manufacturing
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
3
Electrical linewidth test structures patterned in [100] silicon-on-insulator for use as CD standards
von
Cresswell, M.W.
,
Bonevich, J.E.
,
Allen, R.A.
,
Guillaume, N.M.P.
,
Giannuzzi, L.A.
,
Everist, S.C.
,
Murabito, C.E.
,
Shea, P.J.
,
Linholm, L.W.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on semiconductor manufacturing
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
4
Extraction of critical dimension reference feature CDs from new test structure using HRTEM imaging
von
Allen, R.A.
,
Hunt, A.
,
Murabito, C.E.
,
Park, B.
,
Guthrie, W.F.
,
Cresswell, M.W.
Volltext
Tagungsbericht
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
5
Comparison of SEM and HRTEM CD measurements extracted from test-structures having feature linewidths from 40 nm to 240 nm
von
Cresswell, M.W.
,
Park, B.
,
Allen, R.A.
,
Guthrie, W.F.
,
Dixson, R.G.
,
Tan, W.M.
,
Murabito, C.E.
Volltext
Tagungsbericht
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
6
Recent developments in producing test-structures for use as critical dimension reference materials
von
Allen, R.A.
,
Patel, R.
,
Cresswell, M.W.
,
Murabito, C.E.
,
Park, B.
,
Edelstein, M.D.
,
Linholm, L.W.
Volltext bestellen
Tagungsbericht
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
7
Test chip for electrical linewidth of copper-interconnect features and related parameters
von
Cresswell, M.W.
,
Arora, N.
,
Allen, R.A.
,
Murabito, C.E.
,
Richter, C.A.
,
Gupta, A.
,
Linholm, L.W.
,
Pachura, D.
,
Bendix, P.
Volltext bestellen
Tagungsbericht
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
8
280 one-opposition near-Earth asteroids recovered by the EURONEAR with the Isaac Newton Telescope
von
Vaduvescu, O.
,
Hudin, L.
,
Mocnik, T.
,
Char, F.
,
Sonka, A.
,
Tudor, V.
,
Ordonez-Etxeberria, I.
,
Alfaro, M.Díaz
,
Ashley, R.
,
Errmann, R.
,
Short, P.
,
Moloceniuc, A.
,
Cornea, R.
,
Inceu, V.
,
Zavoianu, D.
,
Popescu, M.
,
Curelaru, L.
,
Mihalea, S.
,
Stoian, A.-M.
,
Boldea, A.
,
Toma, R.
,
Fields, L.
,
Grigore, V.
,
Stoev, H.
,
Lopez-Martinez, F.
,
Humphries, N.
,
Sowicka, P.
,
Ramanjooloo, Y.
,
Manilla-Robles, A.
,
Riddick, F.C.
,
Jimenez-Lujan, F.
,
Mendez, J.
,
Aceituno, F.
,
Sota, A.
,
Jones, D.
,
Hidalgo, S.
,
Murabito, S.
,
Oteo, I.
,
Bongiovanni, A.
,
Zamora, O.
,
Pyrzas, S.
,
Génova-Santos, R.
,
Font, J.
,
Bereciartua, A.
,
Perez-Fournon, I.
,
Martínez-Vázquez, C.E.
,
Monelli, M.
,
Cicuendez, L.
,
Monteagudo, L.
,
Agulli, I.
,
Bouy, H.
,
Huélamo, N.
,
Monguió, M.
,
Gänsicke, B.T.
,
Steeghs, D.
,
Gentile-Fusillo, N.P.
,
Hollands, M.A.
,
Toloza, O.
,
Manser, C.J.
,
Dhillon, V.
,
Sahman, D.
,
Fitzsimmons, A.
,
McNeill, A.
,
Thompson, A.
,
Tabor, M.
,
Murphy, D.N.A.
,
Davies, J.
,
Snodgrass, C.
,
Triaud, A.H.M.J.
,
Groot, P.J.
,
Macfarlane, S.
,
Peletier, R.
,
Sen, S.
,
İkiz, T.
,
Hoekstra, H.
,
Herbonnet, R.
,
Köhlinger, F.
,
Greimel, R.
,
Afonso, A.
,
Parker, Q.A.
,
Kong, A.K.H.
,
Bassa, C.
,
Pleunis, Z.
Veröffentlicht in
Astronomy and Astrophysics
Volltext bestellen
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
9
DNA mismatch repair gene MSH6 implicated in determining age at natural menopause
von
Perry, J.R.B
,
Hsu, Y-H
,
Chasman, D.I
,
Johnson, A.D
,
Elks, C
,
Albrecht, E
,
Andrulis, I.L
,
Beesley, J
,
Berenson, G.S
,
Bergmann, S
,
Bojesen, S.E
,
Bolla, M.K
,
Brown, J
,
Buring, J.E
,
Campbell, H
,
Chang-Claude, J
,
Chenevix-Trench, G
,
Corre, T
,
Couch, F.J
,
Cox, A
,
Czene, K
,
D'adamo, A.P
,
Davies, G
,
Deary, I.J
,
Dennis, J
,
Easton, D.F
,
Engelhardt, E.G
,
Eriksson, J.G
,
Esko, T
,
Fasching, P.A
,
Figueroa, J.D
,
Flyger, H
,
Fraser, A
,
Garcia-Closas, M
,
Gasparini, P
,
Gieger, C
,
Giles, G
,
Guenel, P
,
Haegg, S
,
Hall, P
,
Hayward, C
,
Hopper, J
,
Ingelsson, E
,
Kardia, L.R
,
Kasiman, K
,
Knight, J.A
,
Lahti, J
,
Lawlor, D.A
,
Magnusson, P.K.E
,
Margolin, S
,
Marsh, J.A
,
Metspalu, A
,
Olson, J.E
,
Pennell, C.E
,
Polasek, O
,
Rahman, I
,
Ridker, P.M
,
Robino, A
,
Rudan, I
,
Rudolph, A
,
Salumets, A
,
Schmidt, M.K
,
Schoemaker, M.J
,
Smith, E.N
,
Smith, J.A
,
Southey, M
,
Stoeckl, D
,
Swerdlow, A.J
,
Thompson, D.J
,
Truong, T
,
Ulivi, S
,
Waldenberger, M
,
Wang, Q
,
Wild, S
,
Wilson, J.F
,
Wright, A.F
,
Zgaga, L
,
Ong, K.K
,
Murabito, J.M
,
Karasik, D
,
Murray, A
,
Investigators, K
,
Consortium, R
Volltext bestellen
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
10
280 one-opposition near-Earth asteroids recovered by the EURONEAR with the Isaac Newton Telescope
von
Vaduvescu, O
,
Hudin, L
,
Mocnik, T
,
Char, F
,
Sonka, A
,
Tudor, V
,
Ordonez-Etxeberria, I
,
Alfaro, M.D
,
Ashley, R
,
Errmann, R
,
Short, P
,
Moloceniuc, A
,
Cornea, R
,
Inceu, V
,
Zavoianu, D
,
Popescu, M
,
Curelaru, L
,
Mihalea, S
,
Stoian, A.-M
,
Boldea, A
,
Toma, R
,
Fields, L
,
Grigore, V
,
Stoev, H
,
Lopez-Martinez, F
,
Humphries, N
,
Sowicka, P
,
Ramanjooloo, Y
,
Manilla-Robles, A
,
Riddick, F.C
,
Jimenez-Lujan, F
,
Mendez, J
,
Aceituno, F
,
Sota, A
,
Jones, D
,
Hidalgo, S
,
Murabito, S
,
Oteo, I
,
Bongiovanni, A
,
Zamora, O
,
Pyrzas, S
,
Genova-Santos, R
,
Font, J
,
Bereciartua, A
,
Perez-Fournon, I
,
Martinez-Vazquez, C.E
,
Monelli, M
,
Cicuendez, L
,
Monteagudo, L
,
Agulli, I
,
Bouy, H
,
Huelamo, N
,
Monguio, M
,
Gansicke, B.T
,
Steeghs, D
,
Gentile-Fusillo, N.P
,
Hollands, M.A
,
Toloza, O
,
Manser, C.J
,
Dhillon, V
,
Sahman, D
,
Fitzsimmons, A
,
McNeill, A
,
Thompson, A
,
Tabor, M
,
Murphy, D.N.A
,
Davies, J
,
Snodgrass, C
,
Triaud, A.H.M.J
,
Groot, P.J
,
Macfarlane, S
,
Peletier, R
,
Sen, S
,
Ikiz, T
,
Hoekstra, H
,
Herbonnet, R
,
Kohlinger, F
,
Greimel, R
,
Afonso, A
,
Parker, Q.A
,
Kong, A.K.H
,
Bassa, C
,
Pleunis, Z
Volltext bestellen
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Peer Reviewed
3 Treffer
3
Online Resources
10 Treffer
10
Format
Articles
6 Treffer
6
Conference Proceedings
4 Treffer
4
Zeitschriftentitel
Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing
2 Treffer
2
Astronomy And Astrophysics
1 Treffer
1
Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement
1 Treffer
1
Schlagworte
Silicon
5 Treffer
5
Testing
5 Treffer
5
Engineering
4 Treffer
4
Engineering, Electrical & Electronic
4 Treffer
4
Metrology
4 Treffer
4
Nist
4 Treffer
4
Science & Technology
4 Treffer
4
Technology
4 Treffer
4
Calibration
3 Treffer
3
Electric Variables Measurement
3 Treffer
3
Exact Sciences And Technology
3 Treffer
3
Scanning Electron Microscopy
3 Treffer
3
Uncertainty
3 Treffer
3
Applied Sciences
2 Treffer
2
Atomic Force Microscopy
2 Treffer
2
Critical Dimension
2 Treffer
2
Electronics
2 Treffer
2
Electrons
2 Treffer
2
Etching
2 Treffer
2
High-Resolution Transmission Electron Microscopy
2 Treffer
2
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Ieee Power & Energy Library
7 Treffer
7
Ieee Electronic Library (Iel)
7 Treffer
7
Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
4 Treffer
4
Ingentaconnect
3 Treffer
3
Science Citation Index Expanded (Web Of Science)
2 Treffer
2
White Rose Research Repository
2 Treffer
2
Leiden University Repository
1 Treffer
1