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A Review of Core Compact Models for Undoped Double-Gate SOI MOSFETs
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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New approach for defining the threshold voltage of MOSFETs
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Validation of bulk-charge effect parameter extraction in MOSFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Preparation of (thin film SnO 2)/(textured n-Si) solar cells by spray pyrolysis
Veröffentlicht in Thin solid films
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