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Suchergebnisse - Mu-Kyeung Jung
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1
The influence of Cu Diffusion on NMOS Device Characteristics
von
Mu-Kyeung, Jung
,
Seong-Ho, Liu
,
Jong-Hyon, Ahn
,
Kyung-Tae, Lee
,
Hee-Sung, Kang
,
Young-Wug, Kim
,
Kwang-Pyuk, Suh
Veröffentlicht in
Journal of the Korean Physical Society
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Integration of MIM capacitors with low-k/Cu process for 90 nm analog circuit applications
von
Jeong-Hoon Ahm
,
Kyung-Tae Lee
,
Mu-Kyeung Jung
,
Yong-Jun Lee
,
Byung-Jun Oh
,
Seong-Ho Liu
,
Yoon-Hae Kim
,
Young-Wug Kim
,
Kwang-Pyuk Suh
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